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特色设备

原子力显微镜

原子力显微镜

(AFM)
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设备描述

设备名称:

原子力显微镜Atomic Force Microscope

 

设备型号:

Dimension ICON

 

厂家:

布鲁克科学仪器香港有限公司

 

设备简介:

原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时,利用传感器检测这些变化,就可获得作用力分布信息,从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。

 

技术参数:

1.扫描范围:90µm x 90µm x 10µm;

2.光学辅助观察系统:285 ~ 1285倍放大,180-1465µm  视场范围,自动聚焦及缩放,1.5µm分辨率,计算机控制照明,彩色CCD 摄像头;

3. 防震台:封闭一体式防震台,防震频率 0.5HZ;

4. Z 方向噪声水平:开环控制< 0.3Å,   闭环控制< 0.35 Å(图象测试);< 0.5Å(力测试);

5. XY 方向噪音水平:开环控制< 0.1nm 闭环控制< 0.15nm (Bruker ICON  新的技术,闭环噪音世界最低水平);

6. Scan Asyst Bruker 独有专利,智能扫描功能(Scan Asyst),自动设定扫描,用户只需要选择扫描速度及扫描范围,系统即可自动调整反馈,无需寻找共振峰,无需调整反馈参数 gain 值( 可直接液体环境成像)

 

功能特色:

1.高分辨,多模式,自动平台,可大样品程序控制;

2.智能扫描模式(Scan Asyst );

3.原位测量:同时得到形貌、力学、导电、表面电势;

4.Upgrade to Fast 100X+扫描速度 ,秒单位成像;

5.高精度光学定位;

6.噪音水平(XYZ闭环控制);

7.快速下针的smart engage;8.参数调整-智能成像模式。

 

样品要求:

1.样品尺寸:210mm真空吸盘样品台;夹具:直径≤210mm,厚度≤15mm;

2.XY方向扫描范围90x 90μm,垂直方向扫描范围10μm。

 

应用范围:

提供原子或近原子解析度的表面形貌图像,能够定量样品的表面粗糙度到A等级。除了提供表面图像之外,AFM也可以提供形态的定量测量,如高度差和其他尺寸。提供三维表面形态影像,包括表面粗糙度、粒径大小、高度差和间距其他样品特性的成像,包括磁场、电容、摩擦力和相位。

 

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