X射线荧光光谱仪

仪器名称：

波长色散X射线荧光光谱仪（XRF） 

仪器型号：

第二代 S8 TIGER

生产厂家：

Bruker布鲁克 

仪器简介： 

• 4 kW 高压发生器，最高电流170 mA，最大电压60 kV；

• 陶瓷 Rh 靶端窗X 射线光管(75μm 超薄Be 窗)；

• 10 位初级虑光片；

• 样品室和光谱室抽真空；

• 34 mm 的准直器面罩；

• 准直器: 0.23° and 0.46° (4 位置的准直器转换器)；

• 分光晶体: LiF200, PET, XS-55 (8 位置的晶体转换器)；

• 编码控制的测角仪，θ 和 2θ 单独驱动；

• 计数器: 闪烁计数器和配有超高穿透窗的流气正比计数器；

•功能完备的分析软件。 

仪器技术参数： 

高灵敏度、高准确度、高精密度 、高安全性及可靠性；

• 最紧凑的光路设计 （阳极-样品-探测器之间距离最短，信号损失最少，保证了高灵敏度 ）；

• HighSense高稳定性固态发生器 （采用最新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好 ）S8 TIGER 4kW，最大激发电流170mA，最大激发电压60kV；

• HighSense低温X射线光管（超尖锐端窗陶瓷光管，75 μm铍窗）； 

• 高灵敏度、高稳定性的分光晶体 （HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，Be、B、C、N的检测能力大大提高，XS-55晶体，对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上）； 

• 高效的微区分析系统XRF2 （能针对最小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm ）； 

• 高透光性的真空封挡； 

• 高精度光学定位测角仪 （角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,最大扫描速度1200°/分钟，最大转角速度4800°/分钟）； 

• 独家所有的变动理论α系数法；       

• 独家所有的未知烧失量校正； 

• 角度偏移校正；                     

• 几何校正；         

• 制样校正软件； 

• P10气体密度稳定器； 

• 高稳定性的光谱室（光谱室温度稳定性优于±0.05℃）；     

• 采用真空度控制测量。 

主要功能及应用领域：

能对样品中Be～Am之间的元素进行定性定量检测，能对固体样、液体样、玻璃熔片样、粉末压片样直接进行测定，能准确分析ppm～100%的浓度含量。拥有功能完备的分析软件包，实现未知样品的简单快速分析。 

矿物材料、金属材料、水泥、石油、晶体、聚合物等材料中的各种成分的快速定性和定量分析、元素分布、面扫描等分析。 

可以分析材料的领域包括：电池材料、陶瓷及水泥工业、地质矿产、环境保护等； 可用于研发和学术领域的研究。

样品要求

固体样品、粉末样品、半导体薄膜样品(单层薄膜、多层薄膜、复合薄膜)、液体样品（烘干有沉淀）。