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特色设备

场发射透射电子显微镜1

场发射透射电子显微镜1

(TEM)
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设备描述

仪器名称:

场发射电子显微镜 Transmission electron microscope (TEM)

 

仪器型号:

JEM-F200

 

仪器简介:

场发射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,场发射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。

 

技术参数: 

1、点分辨率:0.19nm;

2、线分辨率:0.10nm;

3、加速电压:最高可达200kV;

4、放大倍数:TEM模式下:50~2M×; STEM模式下: 200~150M×;

5、STEM分辨率:≤0.16nm;

6、配置五轴马达驱动全自动样品台 。

 

应用范围:

对各种材料的物质内部微结构进行观察,电子衍射分析及高分辨电子显微术研究,晶体结构及晶体性能进行研究,配合能谱仪可以对各种元素进行定性、及半定量的微区分析,广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、环境、光电子等领域。

 

制样要求:

1 块体样品,要求样品大小为直径3mm的圆,厚度为200nm以下。

2 粉末和液体样品,要求样品能够均匀分散在支持膜上并且干燥。

3 离子减薄需要样品在30um以下,不要超过50um 冲成Ф3mm;磁性样品不可离子减薄制样。

4 生物样品直接用戊二醛固定即可。

5 因TEM-EDS是薄样品测试,不同于SEM-EDS,受仪器本身限制,满足以下要求的样品方可考虑测试TEM-mapping:

(1) 因TEM样品必须制备在覆盖碳膜的铜网上,故含C和Cu元素的样品不能测试mapping;

(2) 因Cu元素无法避免且含量很高,故要求所需测试的元素含量一般要大于5%方可尝试mapping;

(3) 因N元素是原子序数很小的元素,在TEM中很难检测到,一般N元素含量>10%才有可能检测到。

 

 

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