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特色设备

场发射透射电子显微镜2

场发射透射电子显微镜2

(TEM)
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设备描述

生产厂家:

美国FEI公司

 

设备型号:

FEI Tecnai F20ST

 

主要规格及技术指标:

• 最高加速电压200 kV。

• Schottky热场发射电子枪。

• 晶格分辨率 0.10 nm,点分辨率 0.24 nm。

• 信息分辨率 0.16 nm,STEM分辨率 0.2 nm。

• 最小束斑尺寸≤0.3nm。   

• TEM放大倍数 25×-1000k×,最大倾转角 α≥±40°,β≥±25°。

• X射线能谱分辨率 150eV   分辨范围 Be-U。

 

主要附件:

美国EDAX公司X射线能谱仪;STEM-HAADF附件。 

 

主要功能及应用范围:

观察各种材料的微观结构并对样品进行纳米尺度的微区分析,如:形貌观察,高分辨电子显微学研究(HRTEM),电子衍射(ED),会聚束电子衍射(CBED),衍射衬度成像(BF,DF),X射线能谱分析(EDS),原子序数Z-衬度成像(HAADF - STEM)等。

 

仪器特色:

综合分析能力强。

 

材料范围:

除磁性材料之外的任何无机材料,包括粉体、薄膜和块材;不适用于有机和生物材料。

 

形貌分析:

 

天目湖

半导体TEM图片

 

天目湖

Al-Pd-Mn二十面体的准晶体HRTEM图片

 

结构分析:

 

天目湖

 

成分分析:

 

天目湖

Pt/Au催化剂颗粒STEM+EDS能谱图

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